掃描式電子顯微鏡具備明場和暗場兩種模式
掃描式電子顯微鏡是Phenom（飛納）產(chǎn)品中zui*的型號，在繼承了Phenom（飛納）*代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無憂等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質量顯著提高。采用了壽命高達1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
掃描電鏡的優(yōu)點：
①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調；
②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；
③試樣制備簡單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
掃描電子顯微鏡觀測電疇是通過對樣品表面預先進行化學腐蝕來實現(xiàn)的，由于不同極性的疇被腐蝕的程度不一樣，利用腐蝕劑可在鐵電體表面形成凹凸不平的區(qū)域從而可在顯微鏡中進行觀察。因此，可以將樣品表面預先進行化學腐蝕后，利用掃描電子顯微鏡圖像中的黑白襯度來判斷不同取向的電疇結構。對不同的鐵電晶體選擇合適的腐蝕劑種類、濃度、腐蝕時間和溫度都能顯示良好的疇圖樣。掃描電子顯微鏡觀察到的PLZT材料的90°電疇。掃描電子顯微鏡與其他設備的組合以實現(xiàn)多種分析功能。
