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ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評估,可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息,具體包括:
• 顆粒粒度分布
• 顆粒形貌分析
• 雜質(zhì)成分檢測
• 高分辨率成像(8 nm 分辨率)
ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ),結(jié)合自動控制系統(tǒng)以及強大的數(shù)據(jù)庫系 統(tǒng),可以全自動對雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計,為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)
產(chǎn)品參數(shù)
電子顯微鏡:200,000 倍
探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器
燈絲材料:1,500 小時 CeB6 燈絲
分辨率:優(yōu)于 10 nm
放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設(shè)計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)
抽真空時間:小于 30 秒
能譜儀:可選配能譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域
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復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom-China),負(fù)責(zé)荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售,提供專業(yè)的技術(shù)支持和測試服務(wù),飛納中國擁有專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊,提供優(yōu)化的解決方案;飛納中國提出飛納學(xué)校 (Phenom University)的概念,為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn),在上海、北京、廣州設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納在中國已經(jīng)擁有接近 1000 名用戶。
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